lnu.sePublikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Study of SiN, SiON and Mg-Si-O-N thin films by spec-troscopic elipsometry
Linnéuniversitetet, Fakulteten för teknik (FTK), Institutionen för byggd miljö och energiteknik (BET). (Glass group)
Linnéuniversitetet, Fakulteten för teknik (FTK), Institutionen för byggd miljö och energiteknik (BET). (Glass group)
Vise andre og tillknytning
2016 (engelsk)Inngår i: Optics and photonics conference, 2-3 November, 2016, Linköping, Sweden, 2016Konferansepaper, Oral presentation with published abstract (Fagfellevurdert)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2016.
HSV kategori
Forskningsprogram
Naturvetenskap, Fysik; Teknik, Glasteknologi
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:lnu:diva-72850OAI: oai:DiVA.org:lnu-72850DiVA, id: diva2:1197844
Konferanse
Optics and photonics conference, 2-3 November, 2016, Linköping, Sweden
Tilgjengelig fra: 2018-04-15 Laget: 2018-04-15 Sist oppdatert: 2018-10-22bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Ali, SharafatJonson, Bo

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Ali, SharafatJonson, Bo
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 461 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf